为了满足现代材料研究的挑战,Swift开发了一系列*可定制的原位拉伸试样台。这些拉伸试样台适合多种显微观测系统,比如扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等。支持EBSD,样品加热和冷却,可实现...
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产品分类021-64283335
Alpha-Step D-300/500 探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D 测量。Alpha-Step台阶仪光学杠杆传感器技术提供高分辨率测量,大垂直范围和低触力测量功能。 ...
查看详情Profilm 3D是一款兼具垂直扫描干涉 (VSI)和高精确度相移干涉 (PSI) 技术的经济三维光学轮廓仪,其可以用于多种用途的高精度表面测量。我司有此机器可测样。
查看详情iNano高精度台式纳米压痕仪是一种紧凑,用户友好的纳米机械测量系统,设计用于硬涂层,薄膜和少量材料。该系统旨在进行准确,可重复的纳米级机械测试,包括压痕,硬度,划痕和通用纳米级测试。iNano具有很...
查看详情Nano Indenter® G200原位纳米力学测试系统是一种准确,灵活,使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200 测量杨氏模量和硬度,包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 可测量聚合...
查看详情SPRm200 表面等离子共振显微镜 工作原理基于表面等离子共振(SPR)技术。是世界上1st台将表面等离子体共振技术和光学显微镜巧妙结合为一体的生物传感检测仪。
查看详情与X射线用氮化硅窗口类似,透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
查看详情自由曲面三维面型检测仪自由曲面光学元件应用于智能车载显示、AR 显示、手机镜头、激光显示、照明、 光刻等前沿领域,自由曲面三维面型检测仪,能够非接触测量光学镜面元件的三维面型数据,开展三维轮廓分析和三...
查看详情碳化硅SiC长晶设备是实现高质量SiC晶体生长、高纯度原料合成、高温晶体热处理的专业设备。广泛应用于SiC晶体生长、原料合成、晶体热处理领域。可以生长6/8英寸的晶锭。
查看详情MPCVD金刚石长晶设备Intelligent MPCVD Dimond Growth System (IMD)系列金刚石晶体生长系统,是实现高质量金刚石晶体生长、高纯度晶体薄膜沉积、高温晶体热处理的...
查看详情Desk V 镀膜机使用一个2英寸的阴极进行溅射,由一个最大输出为100毫安的直流电源驱动。使用倾斜/旋转台来实现好的样品覆盖,特别是在粗糙的表面。Desk V还可以在沉积前用蚀刻台和快门对样品进行预...
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